真空鍍膜塗層膜厚測量方式?
作者: 來源: 日期:2021-07-14 12:19:06 人氣(qì):2238
我們日常生活中,很多生(shēng)活物品都經過鍍膜機鍍上了一層(céng)膜層,讓產(chǎn)品不僅變得更美觀,也更(gèng)實用。但是很多人會有一(yī)個疑問,那既然是鍍了一層膜層(céng),薄膜肯定是有厚度大小的,那麽薄膜厚度(dù)具體多厚呢,以及怎(zěn)麽去測量?
薄膜必須沉積在基底之上, 所以離開了基片也就無從談薄膜沉積的問題。基片的清洗好壞又對薄膜的(de)質最有極共重要(yào)的影響。同時在薄膜的製作中還必(bì)須知道薄膜的厚度,脫(tuō)離了薄膜的厚度來(lái)談薄膜性質的測最也是亳無意義的。 所以, 膜厚的測量和基片的清洗(xǐ)可以說是(shì)和(hé)薄膜製作相關的重要技術。一般(bān)所謂的厚(hòu)度是指兩個完全平整的平行平麵之(zhī)間的距離,這(zhè)個概念是一個(gè)幾何概念。
理想的薄膜厚度是指基片表麵和薄膜表麵之(zhī)間的(de)距離。在薄膜形貌的三(sān)維度量中,相對於薄膜的厚(hòu)度來(lái)講,其他兩維的度量可以說是無窮大。由於實際上存在的表麵是不平整和不連續的,而且薄膜的內部(bù)還可能存在著(zhe)氣孔、雜質、晶(jīng)格缺陷和表麵吸(xī)附分子等(děng)等,所有要嚴格地定義和精(jīng)確地測量薄膜的厚度實際上是很困難的。
膜厚的定義位當根據測(cè)址(zhǐ)的方法和測址的(de)目的決定。 因(yīn)此,同一個薄膜,使用不同的測(cè)量方法會得到不同的結果, 即不同的厚度(dù)。
在薄膜油測量中的(de)表麵並不是一個(gè)幾何的(de)概念,而是一(yī)個 物埋概念,是指表(biǎo)麵分子(原(yuán)子)的集合。 平均表麵是指表麵原子所有的點到這個麵的距離代(dài)數和(hé)等於零, 平均表麵是一(yī)個兒何概念(niàn)。
我們通常(cháng)將基片的一側的表麵分子的集合的平均表(biǎo)麵稱為基片表麵;薄膜上不和基片接觸的那一側的表麵的平均(jun1)表麵稱為薄膜的形狀表麵,將所測量的薄膜原子重新排列,使其密度和大塊狀固體材料完全一樣且(qiě)均勻的分布在基(jī)片表麵(miàn)上,這時平均表麵稱為薄膜質(zhì)量等價表麵;根據所測量薄膜(mó)的物理性質等效為一種長度和寬度與(yǔ)所測量的薄膜一(yī)樣的大塊(kuài)固體材料的薄膜,這時的平均表麵稱為薄膜物性等價(jià)表麵(miàn)。 形狀膜(mó)厚是比較接近於直觀形式的膜厚(hòu), 通(tōng)常以(yǐ)µm為單位(wèi); 質量膜厚(hòu)反映了薄(báo)膜中包含物質為多(duō)少,通常 以 µg/cm#8217;為單位, 物(wù)性膜厚在實際(jì)使(shǐ)用上較有用, 而且比較容易測量。
由於實際表麵並不平整,同時薄膜製作過程中又(yòu)不可(kě)避(bì)免地要有(yǒu)各種缺陷、 雜質和吸(xī)附分子(zǐ)等存在,所以(yǐ)不管用(yòng)哪 一種方法來定義和測量(liàng)膜厚,都是一個平均值,而且足包括了雜質、缺陷以及吸附分子在內的薄膜的厚度值。
真空鍍膜機鍍膜是在真空腔體下進行鍍膜的,對於測量膜厚(hòu)度(dù)來(lái)說,是需(xū)要這方麵專業的測量儀才能測出厚度大小。