最直接的鍍膜（mó）控製方法是石英（yīng）晶體微量平衡法(QCM)，這種儀器可以直接（jiē）驅動蒸發源，通過PID控製循環驅動擋板，保持蒸發速率。隻要（yào）將儀器與係統控製軟件相連接，它（tā）就可（kě）以（yǐ）控製整個的鍍膜過程。但是(QCM)的精確度（dù）是有限的，部分原因是由於它監控的是被鍍（dù）膜的質量而不（bú）是其（qí）光學厚度。
    此外雖然QCM在較低溫度（dù）下非常穩定，但溫度較高時，它會（huì）變（biàn）得對溫度非（fēi）常敏感。在長時間的加熱過程中，很難阻止傳感（gǎn）器跌入這個（gè）敏感區域，從而（ér）對膜層造成重大誤差。
    光學監控（kòng）是高精密鍍（dù）膜的的首選監控方式，這是因為它（tā）可以（yǐ）更精確地控製膜層厚度(如果運用（yòng）得當)。精確度的改進源於很多因素,但最根本的原（yuán）因是對光學厚度的監控（kòng）。
    OPTIMAL SWA-I-05單波長光學監控係統，是采用間接測控，結合（hé）汪博士開發的先進光學監控軟件，有效提高光學反應對膜厚（hòu）度變化靈敏度的（de）理論和方法（fǎ）來減少終極誤差，提供了反饋或傳輸的選擇模式和大範（fàn）圍（wéi）的監測波長。特別適合於各種膜厚的（de）鍍膜監控包括非規（guī）整膜監控。

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